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10-19
巖礦分析系統(tǒng)是用于巖礦樣品分析的儀器設(shè)備,通過(guò)對(duì)樣本進(jìn)行化學(xué)、物理、礦物學(xué)等綜合分析,獲取關(guān)于巖礦組分、結(jié)構(gòu)、性質(zhì)以及地質(zhì)特征等方面的信息。其原理主要包括前處理、分析檢測(cè)和數(shù)據(jù)處理三個(gè)方面。前處理:首先需要對(duì)待測(cè)的巖礦樣品進(jìn)行前處理,主要包括樣品的制備、研磨和樣品制備,保證樣品充分均勻、無(wú)雜質(zhì)。分析檢測(cè):一般采用多種分析技術(shù),包括化學(xué)分析、物理分析和礦物學(xué)分析等。其中化學(xué)分析主要通過(guò)化學(xué)反應(yīng)、光譜測(cè)量等方法,檢測(cè)巖礦樣品中的元素含量和組成比例。常見(jiàn)的化學(xué)分析方法有原子吸收光譜...
9-28
熒光光譜儀是一種檢測(cè)物質(zhì)的定性、定量分析儀器。其原理是根據(jù)熒光效應(yīng):激光照射原子,原子中電子吸收能量躍遷到第一激發(fā)單線態(tài)或第二激發(fā)單線態(tài),但這些激發(fā)態(tài)是不穩(wěn)定的,當(dāng)電子由第一激發(fā)單線態(tài)恢復(fù)到基態(tài)時(shí),能量會(huì)以光的形式釋放,產(chǎn)生熒光,一般持續(xù)發(fā)光時(shí)間短于10^-8秒(同時(shí)產(chǎn)生的磷光持續(xù)時(shí)間大于10^-8秒)。通過(guò)熒光光譜儀的檢測(cè),可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強(qiáng)度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性,以及熒光的淬滅方面的信息。熒光光譜儀(熒光分光光度計(jì)...
9-25
進(jìn)口XRD射線衍射儀將待測(cè)物質(zhì)粉末狀或薄膜狀涂在樣品支架上。然后,通過(guò)調(diào)節(jié)X射線源的位置和角度,使X射線光束射向樣品。衍射點(diǎn)會(huì)散射到不同角度的位置,檢測(cè)器會(huì)記錄下這些衍射點(diǎn)的位置和強(qiáng)度,并傳輸給計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)會(huì)利用衍射點(diǎn)的位置和強(qiáng)度數(shù)據(jù),根據(jù)熵法、峰形分析等算法來(lái)求解樣品的晶體結(jié)構(gòu)參數(shù),如晶胞參數(shù)、原子坐標(biāo)等。通過(guò)它,可以確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),并進(jìn)一步研究物質(zhì)的性質(zhì)和行為。由于其高分辨率和準(zhǔn)確性,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、固體物理、化學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域,為科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)提供...
9-19
進(jìn)口XRD射線衍射儀是用于研究物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)的先進(jìn)儀器。該儀器利用X射線與物質(zhì)相互作用的原理,通過(guò)測(cè)量物質(zhì)對(duì)X射線的衍射模式來(lái)確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。X射線是一種電磁波,具有很短的波長(zhǎng)和很高的能量。當(dāng)X射線穿過(guò)物質(zhì)時(shí),會(huì)與物質(zhì)內(nèi)部的原子、離子或分子相互作用。其中一種相互作用是散射,當(dāng)X射線遇到物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)時(shí)會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象。衍射是X射線經(jīng)過(guò)晶體后,被晶體內(nèi)的平面結(jié)構(gòu)重新散射出來(lái),形成一系列不同的衍射點(diǎn)。每個(gè)衍射點(diǎn)對(duì)應(yīng)于晶體內(nèi)部的一些平面,這些平面的間距和相對(duì)位置決定了物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)...
8-27
單頻激光器,即單縱模激光器,它的特點(diǎn)是輸出的激光模式既滿足單橫模又滿足單縱模,其諧振腔內(nèi)部只有單一縱模進(jìn)行震蕩,并且輸出光強(qiáng)呈現(xiàn)高斯分布。除了激光本身良好的單色性和方向性外,單頻激光器擁有普通激光器難以達(dá)到的相干長(zhǎng)度長(zhǎng)、譜線寬度窄的特點(diǎn)。在激光雷達(dá)、激光測(cè)距、激光遙感、激光醫(yī)療、光譜學(xué)、光頻標(biāo)準(zhǔn)和非線性光學(xué)頻率變換等領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用。單頻激光器要求激光既是單縱模又是單橫模。由于單頻激光器具有光束質(zhì)量好、相干長(zhǎng)度長(zhǎng)、譜線寬度窄、單色性好等優(yōu)點(diǎn),因此在激光雷達(dá)、激光測(cè)距、激光...
8-25
高溫環(huán)境XRD衍射儀是種常用的非破壞性分析技術(shù),可以用來(lái)研究物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。然而,在高溫環(huán)境下進(jìn)行XRD研究卻是一項(xiàng)挑戰(zhàn)。高溫環(huán)境下,樣品受到了高溫的熱膨脹和晶體結(jié)構(gòu)的改變等影響,研究人員需要克服這些困難,以獲取準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。在進(jìn)行之前,需要準(zhǔn)備好高溫下穩(wěn)定的樣品。高溫樣品制備一般采用多種方法,如粉末冶金、電弧濺射、激光熔煉等。這些方法可以使樣品在高溫下保持結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性,從而得到可靠的XRD數(shù)據(jù)。高溫環(huán)境XRD衍射儀在多個(gè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。例如,在材料科學(xué)中,研究人員可以通...
8-18
SEM掃描電鏡的核心部件包括電子槍、聚焦系統(tǒng)、掃描系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng)等。電子槍產(chǎn)生的高能電子束經(jīng)過(guò)聚焦系統(tǒng)聚焦后,由于電子與樣品的相互作用,會(huì)發(fā)生各種信號(hào)的反射和散射。掃描系統(tǒng)通過(guò)控制電子束的掃描位置,將收集到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電子束掃描像素點(diǎn)的亮度值。檢測(cè)系統(tǒng)則將這些信號(hào)轉(zhuǎn)換為電子束的亮度,形成圖像。分辨率高,可以觀察到更細(xì)微的細(xì)節(jié)和表面形貌。其次,具有更廣泛的觀察范圍,可以用于不同尺寸和形狀的樣品。再次,具有非常強(qiáng)的深度成像能力,可以觀察到樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和組織。此外,還可以應(yīng)用于非...
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